Описание

Увеличение: 1x-2.500.000 x; Разрешение: 0,6-1,0 нм; Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией для микроанализа и контроля для материаловедения, обеспечивающий получение изображений высокого разрешения при низком напряжении. Програмное обеспечение SEM микроскопа позволяет проводить количественный анализ статистики частиц и пор и может применяться в таких областях, как материаловедение, геология и экология.

Аналитическая сканирующая электронная микроскопия с полевым излучением Шоттки (FESEM).

Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией SEM5000XLV сочетает в себе высокое разрешение изображения с возможностями анализа при высоких токах и поддерживает быстрое переключение между режимами работы в условиях низкого вакуума и высокого тока. Он поддерживает интеграцию с дополнительными модулями EDS и EBSD, обеспечивая эффективную характеризацию сложных образцов и комплексное решение для локализованного микроструктурного и композиционного анализа.

Технология двухлучевого замедления

Замедление пучка внутри линзы, применимое к образцам большого объема, с большими поперечными сечениями и неровными поверхностями. Технология двойного замедления (замедление пучка внутри линзы + тандемное замедление пучка на предметном столике) выходит за рамки возможностей захвата сигнала с поверхности образца.

Особенности SEM5000 XLV:

Внутрилинзовый детектор электронов;
Технология "супертуннельной" электронной оптической колонки / замедление луча в линзе Уменьшает эффект пространственной зарядки, обеспечивая разрешение при низком напряжении.
Не содержит перекрестий на пути электронного луча, эффективно уменьшает аберрации объектива и улучшает разрешение.
Низковольтное высокое разрешение; Высокая стабильность;
Механический эвцентрический предметный столик;
Отличные возможности расширения;
Загрузочный шлюз для обмена образцами (совместим с размерами 8 дюймов) (опционально).
Внутрилинзовый электронный детектор; Детектор Эверхарта-Торнли;

Одновременное многоканальное получение изображений с помощью различных детекторов

С помощью встроенного в объектив электронного детектора было получено изображение топографических особенностей поверхности с высоким разрешением

Качественные стереоскопические изображения морфологических особенностей с помощью детектора Эверхарта-Торнли

Контрастное изображение атомного номера (Z-контраст) с помощью убирающегося детектора электронов с обратным рассеянием

Выдвижной сканирующий детектор просвечивающей электронной микроскопии (STEM) (опционально: Несколько режимов работы: Съемка в ярком поле (BF), съемка в темном поле (DF), съемка в кольцевом темном поле под большим углом (HAADF).

Разрез растения:

Съемка в ярком поле (BF)

Разрез растения:

съемка в темном поле (DF)

Разрез растения: съемка в кольцевом темном поле под большим углом (HAADF)

Выдвижной детектор электронов с обратным рассеянием (BSED) (Опционально);

Режим ECCI на основе BSED (контрастная визуализация с использованием электронных каналов)

"Эффект каналирования электронов" относится к значительному уменьшению рассеяния электронов на кристаллических решетках, когда падающий электронный пучок удовлетворяет условию дифракции Брэгга, позволяя большому количеству электронов проходить через решетку, проявляя, таким образом, эффект "каналирования".

Для поликристаллических материалов с однородным составом и полированными плоскими поверхностями интенсивность обратно рассеянных электронов зависит от относительной ориентации падающего электронного пучка и плоскостей кристалла. Зерна с большим изменением ориентации демонстрируют более сильные сигналы, следовательно, более яркие изображения, и с помощью такой карты ориентации зерен достигается качественная характеристика.

Дополнительные возможности: Католлюминесценция; Энергодисперсионная спектрометрия, EBSD.

Область применения SEM5000XLV:

Материаловедение, Междисциплинарные научные центры, Образование.
2D-анализ, Автоматизированный анализ частиц и включений, Геология

Технические характеристики сканирующий электронный микроскоп SEM5000XLV:

Электронная оптика	Разрешение	0,6 нм при 15 кВ, SE 1,0 нм при 1 кВ, SE
	Напряжение ускорения	0,02 кВ ~30 кВ
	Увеличение	1 ~ 2 500 000 x
	Электронная пушка	Электронная пушка Шоттки с полевой эмиссией
Камера для образцов	Камеры	Двойная камера (оптическая навигация + монитор камеры)
	Камеры	Двойная камера (оптическая навигация + монитор камеры)
	Тип стадии	5-осевой механический эвцентрический предметный столик
	Диапазон стадий	X=110 мм, Y=110 мм, Z=65 мм, T: -10°~+70°, R: 360°
Детекторы и расширения для сканирующего электронного микроскопа	Стандарт	Внутрилинзовый детектор Детектор Эверхарта-Торнли (ETD)
	Опциональные детекторы и аксессуары	Выдвижной детектор обратнорассеянных электронов (BSED); Выдвижной детектор сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM); Детектор низкого вакуума (ДНВ); Энергодисперсионный спектрометр (EDS/EDX); Дифракционная картина обратного рассеяния электронов (EBSD); Шлюз для обмена образцами (4 дюйма / 8 дюймов); Панель управления с трекболом и поворотными регуляторами; Режим Duo-Dec (Duo-Dec)
Пользовательский интерфейс	Языки	Английский
	Операционная система	Windows
	Навигация	Оптическая навигация, быстрая навигация жестами, трекбол (опционально)
	Автоматические функции	Автоматическая регулировка яркости и контрастности, автофокусировка, автоматический стигматизатор.

Программное обеспечение SEM

Программное обеспечение для постобработки изображений

Позволяет выполнять онлайн или офлайн постобработку изображений, полученных с помощью электронных микроскопов, и интегрирует часто используемые функции обработки изображений ЭМ, удобные инструменты измерений и аннотаций.

Программное обеспечение для анализа частиц и пор (опция)

Программное обеспечение микроскопа CIQTEK SEM использует различные алгоритмы обнаружения и сегментации целей, подходящие для разных типов образцов частиц и пор. Оно позволяет проводить количественный анализ статистики частиц и пор и может применяться в таких областях, как материаловедение, геология и экология.

Автоматическое измерение (Опция)

Автоматическое распознавание границ линий, что обеспечивает более точные измерения и более высокую стабильность. Поддержка различных режимов определения границ, таких как «Линия», «Пробел», «Шаг» и т. д. Совместимость с различными форматами изображений и широкий набор распространённых функций постобработки изображений. Программа проста в использовании, эффективна и точна.

Комплект для разработки программного обеспечения (SDK) (опция)

Предоставляет набор интерфейсов для управления микроскопом SEM, включая получение изображений, настройку рабочих условий, включение/выключение питания, управление предметным столиком и т. д. Чёткие определения интерфейсов позволяют быстро разрабатывать специальные сценарии и программное обеспечение для работы электронного микроскопа, обеспечивая автоматическое отслеживание интересующих областей, сбор данных для промышленной автоматизации, коррекцию дрейфа изображения и другие функции. Может использоваться для разработки программного обеспечения в специализированных областях, таких как анализ диатомовых водорослей, контроль примесей в стали, анализ чистоты, контроль сырья и т. д.

Автоматическое картографирование (опция)