Описание

Увеличение: 1x-2.500.000 x; Разрешение: 0,7-1,1 нм; Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией для микроанализа и контроля для материаловедения, обеспечивающий получение изображений высокого разрешения при низком напряжении. Програмное обеспечение SEM микроскопа позволяет проводить количественный анализ статистики частиц и пор и может применяться в таких областях, как материаловедение, геология и экология.

Сканирующий электронный микроскоп Шоттки с полевой эмиссией сверхвысокого разрешения

Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией SEM5000Pro (G2) отличается стабильностью, надежностью, простотой использования и производительностью, обеспечивая широкий спектр лабораторий возможностями получения изображений с помощью полевой эмиссии.

Сочетая сверхвысокое пространственное разрешение с долговременной стабильностью работы, SEM5000Pro (G2) обеспечивает получение высококачественных изображений для различных применений - от определения характеристик передовых наноматериалов до исследований и разработок в области полупроводников и производства, удовлетворяя высокие потребности научно-исследовательских институтов и промышленных лабораторий контроля качества.

Особенности SEM5000 Pro:

Технология "супертуннельной" электронной оптической колонки / замедление луча в линзе Уменьшает эффект пространственной зарядки, обеспечивая разрешение при низком напряжении.
Не содержит перекрестий на пути электронного луча, эффективно уменьшает аберрации объектива и улучшает разрешение.
Электромагнитный и электростатический составной объектив уменьшают аберрации, значительно улучшают разрешение при низких напряжениях и позволяют наблюдать магнитные образцы.
Объектив с водяным охлаждением и постоянной температурой обеспечивает стабильность, надежность и повторяемость работы объектива.
Регулируемая диафрагма с несколькими отверстиями и электромагнитной системой отклонения луча: автоматическое переключение между отверстиями без механического перемещения, позволяющее быстро переключаться между режимами съемки.
Низковольтное высокое разрешение; Высокая стабильность;
Отклонение электромагнитного луча с помощью многоканальных апертур;
Отличные возможности расширения;
Загрузочный шлюз для обмена образцами (совместим с размерами 8 дюймов) (опционально).
Внутрилинзовый электронный детектор; Детектор Эверхарта-Торнли;

Одновременное многоканальное получение изображений с помощью различных детекторов

С помощью встроенного в объектив электронного детектора было получено изображение топографических особенностей поверхности с высоким разрешением

Качественные стереоскопические изображения морфологических особенностей с помощью детектора Эверхарта-Торнли

Контрастное изображение атомного номера (Z-контраст) с помощью убирающегося детектора электронов с обратным рассеянием

Выдвижной сканирующий детектор просвечивающей электронной микроскопии (STEM) (опционально: Несколько режимов работы: Съемка в ярком поле (BF), съемка в темном поле (DF), съемка в кольцевом темном поле под большим углом (HAADF).

Разрез растения:

Съемка в ярком поле (BF)

Разрез растения:

съемка в темном поле (DF)

Разрез растения: съемка в кольцевом темном поле под большим углом (HAADF)

Выдвижной детектор электронов с обратным рассеянием (BSED) (Опционально);

Режим ECCI на основе BSED (контрастная визуализация с использованием электронных каналов)

"Эффект каналирования электронов" относится к значительному уменьшению рассеяния электронов на кристаллических решетках, когда падающий электронный пучок удовлетворяет условию дифракции Брэгга, позволяя большому количеству электронов проходить через решетку, проявляя, таким образом, эффект "каналирования".

Для поликристаллических материалов с однородным составом и полированными плоскими поверхностями интенсивность обратно рассеянных электронов зависит от относительной ориентации падающего электронного пучка и плоскостей кристалла. Зерна с большим изменением ориентации демонстрируют более сильные сигналы, следовательно, более яркие изображения, и с помощью такой карты ориентации зерен достигается качественная характеристика.

Дополнительные возможности: Католлюминесценция; Энергодисперсионная спектрометрия, EBSD.

Технические характеристики сканирующий электронный микроскоп SEM5000 Pro:

Электронная оптика	Разрешение	0,7 нм при 15 кВ, SE 1,1 нм при 1,0 кВ, SE
	Напряжение ускорения	0,02 кВ ~ 30 кВ
	Увеличение (Polaroid)	1 ~ 2 500 000 x
	Электронная пушка	Электронная пушка Шоттки с полевой эмиссией
Камера для образцов	Камера	Двойная камера (оптическая навигация + монитор камеры)
	Камера	Двойная камера (оптическая навигация + монитор камеры)
	Диапазон стадий	X: 110 мм, Y: 110 мм, Z: 65 мм T: -10°～ +70°, R: 360°
Детекторы и расширения для сканирующего электронного микроскопа	Стандарт	Внутрилинзовый электронный детектор Inlens Детектор Эверхарта-Торнли (ETD)
	Опциональные детекторы и аксессуары	Выдвижной детектор обратнорассеянных электронов (BSED); Выдвижной сканирующий просвечивающий электронный микроскоп (STEM); Детектор низкого вакуума (ДНВ); Энергодисперсионная спектроскопия (ЭДС/ЭДХ); Дифракционная картина обратного рассеяния электронов (EBSD); Шлюз для обмена образцами (4 дюйма / 8 дюймов); Панель управления с трекболом и поворотными регуляторами.
Программное обеспечение	Язык	Английский
	Операционная система	Windows
	Навигация	Оптическая навигация, быстрая навигация жестами, трекбол (опционально)
	Автоматические функции	Автоматическая регулировка яркости и контрастности, автофокусировка, автоматический стигматизатор.

Программное обеспечение SEM

Программное обеспечение для постобработки изображений

Позволяет выполнять онлайн или офлайн постобработку изображений, полученных с помощью электронных микроскопов, и интегрирует часто используемые функции обработки изображений ЭМ, удобные инструменты измерений и аннотаций.

Программное обеспечение для анализа частиц и пор (опция)

Программное обеспечение микроскопа CIQTEK SEM использует различные алгоритмы обнаружения и сегментации целей, подходящие для разных типов образцов частиц и пор. Оно позволяет проводить количественный анализ статистики частиц и пор и может применяться в таких областях, как материаловедение, геология и экология.

Автоматическое измерение (Опция)

Автоматическое распознавание границ линий, что обеспечивает более точные измерения и более высокую стабильность. Поддержка различных режимов определения границ, таких как «Линия», «Пробел», «Шаг» и т. д. Совместимость с различными форматами изображений и широкий набор распространённых функций постобработки изображений. Программа проста в использовании, эффективна и точна.

Комплект для разработки программного обеспечения (SDK) (опция)

Предоставляет набор интерфейсов для управления микроскопом SEM, включая получение изображений, настройку рабочих условий, включение/выключение питания, управление предметным столиком и т. д. Чёткие определения интерфейсов позволяют быстро разрабатывать специальные сценарии и программное обеспечение для работы электронного микроскопа, обеспечивая автоматическое отслеживание интересующих областей, сбор данных для промышленной автоматизации, коррекцию дрейфа изображения и другие функции. Может использоваться для разработки программного обеспечения в специализированных областях, таких как анализ диатомовых водорослей, контроль примесей в стали, анализ чистоты, контроль сырья и т. д.

Автоматическое картографирование (опция)