Описание

Увеличение: 1x-2.500.000 x; Разрешение: 0,8-1,3 нм; Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией для микроанализа и контроля для материаловедения, обеспечивающий получение изображений высокого разрешения при низком напряжении. Програмное обеспечение SEM микроскопа позволяет проводить количественный анализ статистики частиц и пор и может применяться в таких областях, как материаловедение, геология и экология.

CIQTEK SEM5000 — сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FESEM), обладающий возможностью получения изображений и анализа высокого разрешения, широким набором функций, усовершенствованной конструкцией колонны электронной оптики, технологией туннелирования электронного пучка высокого давления (SuperTunnel), низким уровнем аберраций и неиммерсионным объективом, что позволяет получать изображения высокого разрешения при низком напряжении, а также анализировать магнитные образцы.

Благодаря оптической навигации, автоматизированным функциям, тщательно разработанному пользовательскому интерфейсу взаимодействия человека с компьютером и оптимизированному процессу работы и использования, независимо от вашего уровня подготовки, вы сможете быстро приступить к работе и выполнить высокоразрешающую визуализацию и анализ данных.

Преимущества SEM5000:

Высокоразрешающая визуализация (0,8 нм) при низком ускоряющем напряжении.
Электромагнитный комбинированный объектив улучшает разрешение при низком напряжении и позволяет проводить наблюдение за магнитными образцами.
Технология туннелирования под высоким давлением (SuperTunnel) обеспечивает высокое разрешение разрешение при нижком напряжении.
Большая камера для образцов;
Навигационная камера уже в базовой комплектации;
Регулируемая диафрагма с магнитным отклонением с шестью апертурами, автоматическое переключение отверстий диафрагмы, отсутствие необходимости в механической регулировке позволяют одним щелчком мыши переключать режимы получения изображений высокого разрешения или режим анализа;
Электронно-оптический тракт без пересечений эффективно снижает системные аберрации и повышает разрешение.
Объектив с водяным охлаждением и постоянной температурой, обеспечивающий стабильность, надежность и воспроизводимость работы объектива.
Системы автоматизации для качественной визуализации и настройки систем микроскопа.

Область применения SEM5000:

Материаловедение, Междисциплинарные научные центры, Образование.
2D-анализ, Автоматизированный анализ частиц и включений, Геология


Катализатор (5 кВ/ линза)	Escherichia Coli (3 кВ/ линза)	Лист нитрида бора (3 кВ / ETD)

Порошок меди (3 кВ/ линза)	Срез растения (30 kV / STEM-BF)	Срез керамики (3 кВ/ линза)

Технические характеристики сканирующий электронный микроскоп SEM5000:

Ключевые параметры	Разрешение	0,9 нм при 15 кВ, в режиме регистрации вторичных электронов (SE) 1,3 нм при 1,0 кВ, в режиме SE 0,8 нм при 30 кВ, STEM
	Напряжение ускорения	0,02 ~ 30 кВ
	Увеличение	1 ~ 2 500 000 x
	Электронная пушка	Электронная пушка Шоттки с полевой эмиссией высокой яркости
Камера для образцов	Вакуумная система	Полностью автоматическое управление, безмасляная вакуумная система.
	Камера	Двойная камера (оптическая навигация + монитор камеры)
	Диапазон стадий	X: 125 мм, Y: 125 мм, Z: 50 мм T: -10°～ +90°, R: 360° (*Доступна опциональная версия с увеличенной камерой)
Детекторы и расширения	Стандарт	Детектор Inlens SE Детектор Эверхарта-Торнли (ETD)
Детекторы и расширения	Опционально:	Плоский детектор рассеянных электронов под средним углом с вставкой Автоматический выдвижной сканирующий просвечивающий электронный детектор STEM Шлюз обмена образцами Быстродействующий гаситель луча Энергодисперсионная спектроскопия (ЭДС/ЭДХ) Дифракционная картина обратного рассеяния электронов (EBSD) Ток, индуцированный электронным пучком (EBIC) Катодолюминесценция (КЛ) Этап растяжения на месте Наноманипулятор Крупномасштабная сшивка изображений Панель управления с трекболом и поворотными регуляторами
Программное обеспечение	Язык	Английский
	Операционная система	Windows
	Навигация	Навигационная камера, навигация жестами
	Автоматические функции	Автоматическая регулировка яркости и контрастности, автофокусировка, автоматический стигматизатор.

Программное обеспечение SEM

Программное обеспечение для постобработки изображений

Позволяет выполнять онлайн или офлайн постобработку изображений, полученных с помощью электронных микроскопов, и интегрирует часто используемые функции обработки изображений ЭМ, удобные инструменты измерений и аннотаций.

Программное обеспечение для анализа частиц и пор (опция)

Программное обеспечение микроскопа CIQTEK SEM использует различные алгоритмы обнаружения и сегментации целей, подходящие для разных типов образцов частиц и пор. Оно позволяет проводить количественный анализ статистики частиц и пор и может применяться в таких областях, как материаловедение, геология и экология.

Автоматическое измерение (Опция)

Автоматическое распознавание границ линий, что обеспечивает более точные измерения и более высокую стабильность. Поддержка различных режимов определения границ, таких как «Линия», «Пробел», «Шаг» и т. д. Совместимость с различными форматами изображений и широкий набор распространённых функций постобработки изображений. Программа проста в использовании, эффективна и точна.

Комплект для разработки программного обеспечения (SDK) (опция)

Предоставляет набор интерфейсов для управления микроскопом SEM, включая получение изображений, настройку рабочих условий, включение/выключение питания, управление предметным столиком и т. д. Чёткие определения интерфейсов позволяют быстро разрабатывать специальные сценарии и программное обеспечение для работы электронного микроскопа, обеспечивая автоматическое отслеживание интересующих областей, сбор данных для промышленной автоматизации, коррекцию дрейфа изображения и другие функции. Может использоваться для разработки программного обеспечения в специализированных областях, таких как анализ диатомовых водорослей, контроль примесей в стали, анализ чистоты, контроль сырья и т. д.

Автоматическое картографирование (опция)