Увеличение 1x.. 1,000,000x; Разрешение - 3-7 нм; 5-1000 Па; 0,2-30кВ. Универсальный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с вольфрамовой нитью накала и выдающимися общими характеристиками. Уникальная конструкция электронной пушки с двумя анодами обеспечивает высокое разрешение и улучшенное соотношение сигнал/шум при низких напряжениях возбуждения. Кроме того, SEM3200 предлагается с широким набором дополнительных аксессуаров, что делает его универсальным аналитическим прибором с превосходными возможностями расширения.

Сканирующий электронный микроскоп SEM3200 CIQTEK обладает возможностью оптической навигации, автоматической фокусировки, регулировки яркости и контрастности, интеллектуальной коррекции астигматизма. Эти функции помогают быстрее находить нужные участки образца и настраивать изображение.

В базовой конфигурации электронный сканирующий микроскоп SEM3200 оснащен детектором вторичных электронов ETD для изучения рельефа поверхности.

Опционально доступен детектор обратнорассеянных электронов BSED, который помогает выявлять контраст между участками образца, различающимися по среднему атомному номеру. Система EBSD предназначена для кристаллографических исследований, включая изучение ориентации кристаллитов.

Сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью SEM3200 CIQTEK предоставляет исследователям четкие наноразмерные изображения, позволяющие им визуально исследовать микроструктуру и морфологию слоев покрытия. Кроме того, оснащенный энергодисперсионным спектрометром (EDS) позволяет проводить точный анализ состава материала и распределения элементов, эффективно помогая оптимизировать процессы в исследованиях и разработках.

Ключевые особенности:

• Модульность конструкции SE \ BSE \EDS \ EBSD
• Оптическая навигация Быстрый поиск области интереса (ROI)
• Большая площадь сканирования Автоматическая съемка и сшивка изображений
• Объединение изображения (SE+BSE) Информация о составе и поверхности образца представлена на одном изображении.
• Режим низкого вакуума Предоставляет подробную информацию о поверхности и морфологии образца при низком вакууме, ПО переключает состояние вакуума одним нажатием мыши.

Режим низкого вакуума для сложных образцов

В диапазоне 5–180 Па сканирующий электронный микроскоп SEM3200 работает без ограничивающей апертуры, а при 180–1000 Па используется апертура PLA.

Низкий вакуум помогает уменьшить накопление электрического заряда на поверхности непроводящих образцов при исследовании некоторых полимеров, керамических и композиционных материалов. 

При подходящих условиях такие образцы можно изучать без предварительного нанесения проводящего покрытия. Возможность зависит от свойств материала и требований к изображению.

 

Области применения сканирующего электронного микроскопа SEM3200 включают:

• Исследовании металлов и сплавов, полимеров, углеродных материалов, керамики и композитов.
• Изучение дефектов поверхностей, особенности покрытий и структуру разрушения материалов.
• Исследованиеморфологии новых материалов и сравнивнение образцов после обработки.
• При установке дополнительных аналитических систем возможности микроскопа расширяются до элементного и кристаллографического анализа.

 

Технические характеристики сканирующий электронный микроскоп SEM3200:

Электронная оптика	Разрешение	3 нм при 30 кВ, в режиме регистрации вторичных электронов (SE) 7 нм при 3 кВ, в режиме регистрации вторичных электронов (SE) 4 нм при 30 кВ, в режиме обратно-рассеянных электронов (BSE) 3 нм при 30 кВ, в режиме регистрации вторичных электронов (SE), 30 Па
	Ускоряющее напряжение	0,2 кВ ~ 30 кВ
	Увеличение (Polaroid)	1 x ~ 1 000 000 x
Камера для образцов	Низкий вакуум	5 ~ 1000 Па (опционально)
	Камера	Оптическая навигация
		Мониторинг камер
	Тип сцены	5-осевой вакуумный совместимый моторизованный
	Диапазон XY	125 мм
	Диапазон Z	50 мм
	Диапазон Т	- 10° ~ 90°
	Диапазон R	360°
Детекторы СЭМ	Стандартный	Детектор Эверхарта-Торнли (ETD)
	Опциональный	Выдвижной детектор обратно рассеянных электронов (BSED) Энергодисперсионный спектрометр (EDS/EDX) Картина дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD)
Опции	Шлюз для обмена образцами
	Панель управления с трекболом и ручкой
Пользовательский интерфейс	Операционная система	Windows
	Навигация	Оптическая навигация, быстрая навигация жестами, трекбол (опционально)
	Автоматические функции	Автоматическая яркость и контрастность, автоматическая фокусировка, автоматический стигматор

 

Режим СЭМ низкого вакуума

Электронный сканирующий микроскоп CIQTEK SEM3200 поддерживает двухступенчатые режимы низкого вакуума: давление в камере может достигать 5–180 Па без ограничивающей апертуры, а давление в камере — 180–1000 Па — с использованием PLA. Специально разработанная вакуумная камера объектива минимизирует длину свободного пробега электронов в условиях низкого вакуума и поддерживает разрешение 3 нм при 30 кВ.

Падающий электронный луч ионизирует молекулы воздуха на поверхности, образуя электроны и ионы, при этом ионы нейтрализуют заряженные частицы, образующиеся на поверхности образца, достигая эффекта ослабления заряда.

Вторичная электронная эмиссия с поверхности образца ионизирует молекулы воздуха, одновременно генерируя электроны, ионы и фотосигналы. Образовавшиеся электроны затем ионизируют другие молекулы воздуха, создавая большое количество фотосигналов, которые затем регистрируются детектором низкого вакуума (LVD).

В режиме высокого вакуума LVD напрямую обнаруживает сигнал катодолюминесценции, испускаемый образцом, который можно захватить для получения катодолюминесцентного изображения с одновременной визуализацией с канала BSED.

Оптическая навигация Использование в отсеке для образцов вертикально установленной фотокамеры для получения оптических изображений для навигации по предметному столику образца позволяет более интуитивно и точно позиционировать образец. Инфракрасная ПЗС-матрица Мониторинг движения внутри камеры в режиме реального времени с использованием технологии распознавания изображений и захвата движения. Доступен ввод высоты образца вручную, чтобы точно определить расстояние между образцом и объективом и предотвратить столкновения.

 

 

Двуханодная структура электронной пушки (опция)   Прерывистый анод Промежуточный анод устанавливается между катодным узлом и анодом. При низком напряжении возбуждения эффективность извлечения электронного пучка может быть повышена, разрешение может быть увеличено на 10%, а отношение сигнал/шум – на 30%. Для образцов углеродных материалов при низких возбуждающих напряжениях глубина проникновения луча невелика, что позволяет получить истинную информацию о морфологии поверхности с более подробной информацией об образце. Для образцов полимерных волокон высокие напряжения возбуждения вызывают повреждение образца лучом, в то время как низковольтный луч позволяет сохранить детали поверхности без повреждений.

 

Углеродные материалы
Полимерные волокна

 

Интеллектуальная вспомогательная коррекция астигматизма изображения

В этом режиме значение астигматизма по осям X и Y меняется в зависимости от пикселя. Чёткость изображения достигается при оптимальном значении астигматизма, что позволяет быстро настроить стигматор.

 

 

 

Автоматические функции Сканирующего электронного микроскопа SEM3200:

Улучшенные функции автоматической регулировки яркости и контрастности, автоматической фокусировки и автоматической коррекции астигматизма. Съёмка одним щелчком!

>> Автоматическая фокусировка

 

Интеллектуальная вспомогательная коррекция астигматизма изображения

В этом режиме значение астигматизма по осям X и Y меняется в зависимости от пикселя. Чёткость достигается при оптимальном значении астигматизма, что позволяет быстро настроить стигматор.

Автоматическая яркость и контрастность

 

Программное обеспечение SEM   Программное обеспечение для постобработки изображений Позволяет выполнять онлайн или офлайн постобработку изображений, полученных с помощью электронных микроскопов, и интегрирует часто используемые функции обработки изображений ЭМ, удобные инструменты измерений и аннотаций.
Программное обеспечение для анализа частиц и пор (опция) Программное обеспечение микроскопа CIQTEK SEM использует различные алгоритмы обнаружения и сегментации целей, подходящие для разных типов образцов частиц и пор. Оно позволяет проводить количественный анализ статистики частиц и пор и может применяться в таких областях, как материаловедение, геология и экология.
Автоматическое измерение (Опция) Автоматическое распознавание границ линий, что обеспечивает более точные измерения и более высокую стабильность. Поддержка различных режимов определения границ, таких как «Линия», «Пробел», «Шаг» и т. д. Совместимость с различными форматами изображений и широкий набор распространённых функций постобработки изображений. Программа проста в использовании, эффективна и точна.
Комплект для разработки программного обеспечения (SDK)  (опция) Предоставляет набор интерфейсов для управления микроскопом SEM, включая получение изображений, настройку рабочих условий, включение/выключение питания, управление предметным столиком и т. д. Чёткие определения интерфейсов позволяют быстро разрабатывать специальные сценарии и программное обеспечение для работы электронного микроскопа, обеспечивая автоматическое отслеживание интересующих областей, сбор данных для промышленной автоматизации, коррекцию дрейфа изображения и другие функции. Может использоваться для разработки программного обеспечения в специализированных областях, таких как анализ диатомовых водорослей, контроль примесей в стали, анализ чистоты, контроль сырья и т. д. Автоматическое картографирование (опция)

 

Материалы для скачивания

Сканирующий электронный микроскоп SEM3200 CIQTEK  (листовка ЛФ)