Описание

Спектральный диапазон 240–2600 нм; 190–3300 нм; 175–2600 нм; 165–3300 нм в зависимости от комплектации .

Спектрофотометры серии SolidSpec отличает высокая чувствительность, возможность проведения измерений в широком спектральном диапазоне (от глубокого УФ до ближнего ИК-диапазона) и большое кюветное отделение. Все это позволяет использовать приборы при оценке характеристик изделий из стекла, полупроводниковых материалов, панелей солнечных батарей и плоскопанельных мониторов. Другое распространенное использование SolidSpec-3700i/3700i DUV — это анализ запрещенной зоны, оценка характеристик покрытия и оптических компонентов.

Высокая чувствительность

В обычных спектрофотометрах фотоэлектронный умножитель, используемый в качестве детектора для ультрафиолетовой и видимой области, и PbS детектор для измерений в ближнем ИК-диапазоне не могут обеспечить высокую чувствительность на границе ближнего ИК и видимого диапазонов. SolidSpec-3700i/3700i DUV успешно решает данную проблему.

Это первые спектрофотометры для УФ-видимого и ближнего ИК-диапазона с тремя детекторами: ФЭУ + полупроводниковые на основе InGaAs и PbS. Полупроводниковые детекторы обеспечивает чрезвычайно высокую чувствительность на границе ближней ИК-области и видимого диапазона. Низкие значения шума при работе с малопрозрачными образцами делают данный спектрофотометр незаменимым. Эта особенность неоценима при исследовании плохо отражающих образцов, например, оптических волоконных материалов.

Измерения в вакуумном УФ
Спектрофотометр SolidSpec-3700i DUV работает в вакуумном УФ от 165 нм (от 175 нм с интегрирующей сферой) с очень низкими значениями рассеянного света. Оптический блок и кюветное отделение продуваются азотом с целью удаления кислорода, поглощающего в области ниже 190 нм. Спектральный диапазон для измерений с использованием интегрирующей сферы — от 175 нм до 2600 нм.

Дополнительный модуль для прямого измерения в ультрафиолете (Direct detection unit DUV) позволяет расширить данный диапазон от 165 до 3300 нм и проводить измерения без использования интегрирующей сферы.

Работа с большими образцами
Большое отделение для образцов (900мм x 700мм x 350мм) позволяет удобно разместить образцы максимальной величины 700мм х 560 мм х 40 мм. Вертикальное расположение оптического пучка позволяет проводить измерения образцов, расположенных горизонтально. Возможно измерение по всей поверхности образца площадью 310 х 310 мм2.

Автоматическая система перемещения образца позволяет проводить измерения в предварительно заданной точке образца с одновременной продувкой азотом. Достаточное количество необходимых приставок, таких как приставка нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО) и др. значительно расширяют области применения данного спектрофотометра.

Технические характеристики спектрофотометров SolidSpec-3700i / 3700i DUV

Спектральный диапазон	SolidSpec-3700i: стандартные модели 240–2600 нм; с использованием приставки для прямого детектирования 190–3300 нм. SolidSpec-3700i DUV: модели для измерения в глубоком УФ 175–2600 нм; с использованием приставки для прямого детектирования 165–3300 нм.
Спектральная ширина щели	8-ступенчатая: 0,1; 0,2; 0,5; 1; 2; 3; 5; 8 нм в УФ/видимой области 10-ступенчатая: 0,2; 0,5; 1; 2; 3; 5; 8; 12; 20; 32 нм в ближней ИК области
Разрешение(*)	0,1 нм
Шаг по длине волны	от 0,01 до 5 нм
Точность отображения длины волны	шаг 0,01 нм
Погрешность установки длины волны(*)	± 0,2 нм в УФ / видимой области ± 0,8 нм в ближней ИК области
Воспроизводимость длины волны(*)	± 0,08 нм в УФ/видимой области ± 0,32 нм в ближней ИК области
Скорость сканирования длины волны	Максимально 3600 нм/ в минуту для ФЭУ и InGaAs-детектора Максимально 1600 нм/ в минуту для PbS-детектора
Переключение ламп	Автоматическое переключение (можно выбрать в интервале между 282 и 393 нм с шагом 0,1 нм)
Уровень рассеянного излучения(*)	< 0,00008% (220 нм, NaI) < 0,00005% (340 нм, NaNO2) < 0,0005% (1420 нм, H2O) < 0,005% (2365 нм, CHCl3)
Уровень шума	0,0002 Abs или менее (500 нм) 0,00005 Abs или менее (1500 нм), щель 8 нм, пост. времени 1 с
Колебания базовой линии	± 0,003 Abs (от 240 до 350 нм), ± 0,002 Abs (от 350 до 1600 нм), ± 0,004 Abs (от 1600 до 2600 нм), ± 0,001 Abs (от 200 до 3000 нм) при использовании DDU
Дрейф	SolidSpec-3700i 0,0002 Abs/час (после 2 часов прогрева прибора, 500 нм, постоянная времени 1с) SolidSpec-3700i DUV 0,0003 Abs/час (после 2 часов прогрева прибора, 500 нм, постоянная времени 1с)
Источники света	50 Вт галогенная лампа (2000 часов работы) Дейтериевая лампа (1250 часов работы) Встроенное автоматическое позиционирование ламп.
Монохроматор	Двойной монохроматор с дифракционными решетками
Детекторы	УФ/видимая область: ФЭУ (типа R928 для SolidSpec-3700i, R955 для SolidSpec-3700i DUV) Ближняя ИК область: InGaAs фотодиод и охлаждаемый PbS
Фотометрический диапазон	от –6 до 6 Abs
Оптическая схема	Двухлучевая
Размеры, масса	1000 x 800 x 1200 мм (Ш х Г х В), 170 кг

(* измерения проводили с использованием Дополнительного модуля для прямого измерения в ультрафиолете DDU-DUV)

Программное обеспечение

ПО LabSolutions UV-Vis помимо функций измерения и анализа даёт возможность оценки результатов измерения (критерий соответствия/несоответствия). Простой экспорт данных в текстовый или табличный (MS Excel) формат повышает эффективность работы.

Автоматизированная обработка данных:

Обработка данных, после снятия спектра, может выполняться в автоматическом режиме в соответствии с выбранным методом оценки. Можно настроить несколько критериев оценки.

Метод для вычисления расчетных значений можно выбрать из 33 стандартных методов оценки (арифметические расчёты, пик/впадина, площадь или статистические расчёты) или настроить. Критерии соответствия/несоответствия также могут быть выбраны из восьми типов (например, значение больше или равно, меньше или равно, больше или меньше указанного значения).

Дополнительное ПО для всех спектрофотометров:

ПО для расчета фактора защиты от УФ излучения (UPF) и для измерения пропускания солнечного света
ПО для измерения цветности
ПО для измерения толщины пленок

Приставки и аксессуары (опция)

Блок детектирования DDU-DUV (для анализа твердых и жидких проб);
Устройство прецизионной подвижки, может смещаться по X-Y (для автоматизации измерений);
Приставка для измерения зеркального отражения;
Блок для очистки азота;
Приставка абсолютного зеркального отражения с возможностью измерения при разных углах (5º, 12º, 30º, 45º);
Интегрирующая сфера;
Автосамплеры ASX для спектрофотометров.

Автоматизация анализа

Shimadzu предлагает автоматизировать рутинные спектрофотометрические измерения, используя обновленные автосамплеры Teledyne CETAC серии ASX.

Подробнее....

Видеообзор