Описание

185-3300 нм (0,2-32 нм регулируемая щель). Вид-БлИК спектрофотометр исследовательского класса UV-3600i Plus предназначен для работы в УФ, видимом и ближнем ИК-диапазоне спектра и характеризуются высокой чувствительностью и разрешением и сверхнизким уровнем рассеянного света. Возможность работы в широком спектральном диапазоне до 3300 нм позволяет определять оптические свойства различных типов образцов, включая твердые вещества, порошки, пластины, пленки и жидкости. Области применения включают анализ запрещенной зоны, оценку характеристик покрытия и оптических компонентов.

Технические характеристики:

Диапазон измерения: 185-3300 нм.
Регулируемая щель: УФ/Вид: 8 ступенчатая; от 0,1 до 8 нм БлИК: 10 ступенчатая; от 0,2 до 32 нм.
Двойной монохроматор (Черни-Тернера и предмонохроматор - вогнутая дифракционная решетка).
Скорость сканирования: 4500 нм/мин (УФ/вид); 9000 нм/мин (блИК с ФЭУ/InGaAs) 4000 нм/мин (блИК с PbS).
Точность установки длины волны: ±0,2 нм (УФ/вид); ±0,8нм (БлИК).
Воспроизводимость по шкале длин волн: ±0,08 нм (УФ/вид) ±0,32 нм (блИК).
Уровень рассеянного излучения: 0,00008% (220 нм, NaI); 0,00005% (340 нм, NaNO₂); 0,0005% (1420 нм, H₂O); 0,005% (2365 нм, CHCl₃).
Фотометрический диапазон: от –6 до +6 Abs.
Фотометрическая точность: ±0,002 Abs (при 0,5 Abs); ±0,003 Abs (при 1,0 Abs).
Дрейф нулевой линии: 0,0002 Аbs/час.
Уровень шума: ≤0,00005 Abs (500 нм); ≤0,00008 Abs (900 нм); ≤0,00003 Abs (1500 нм).
Габариты: 1020×660×270 мм.
Масса: 96 кг.
Управление: через ПК.

Три детектора

Спектрофотометр исследовательского класса UV-3600i PlusUV-3600i Plus обеспечивает точные измерения коэффициента пропускания или отражения в ультрафиолетовой и ближней инфракрасной областях. Уровень чувствительности в ближней инфракрасной области значительно повышается за счет использования комбинации детектора InGaAs и охлаждаемого PbS-детектора для этой области. Спектры могут быть получены без перерыва во всем диапазоне с высоким уровнем чувствительности и точности.

Спектрофотометр Shimadzu UV-3600i диапазон измерения

Переключение между фотоэлектронным умножителем и детектором InGaAs возможно в диапазоне от 700 до 1000 нм (длина волны переключения по умолчанию составляет 830 нм). Переключение между детекторами InGaAs и PbS возможно в диапазоне от 1600 до 1800 нм (длина волны переключения по умолчанию составляет 1650 нм).

Для обычных спектрофотометров, имеющих только два типа детекторов (ФЭУ и PbS), характерна потеря чувствительности в области перехода от видимой области спектра к ИК-диапазону. В спектрофотометре UV-3600i Plus, благодаря наличию InGaAs детектора, обеспечивается высокая чувствительность во всем рабочем диапазоне, а уровень шума не превышает 0,00003 Abs при 1500 нм.

Высокоточное измерение: Шумы и неровности, вызываемые переключением датчиков, сведены к минимуму для обеспечения точности измерений. Шумы и неровности практически не наблюдаются даже при использовании передающей ячейки с длиной оптического пути 50 или 100 мм.

Высокое разрешение, сверхнизкий уровень рассеянного света и широкий диапазон длин волн для измерений: Спектрофотометр UV-3600i Plus оснащен высокопроизводительным двойным монохроматором с решеткой и обеспечивает низкий уровень рассеянного света при высоком разрешении. Диапазон длин волн составляет от 185 до 3300 нм. UV-3600i Plus может выполнять спектрофотометрию различных типов образцов: от образцов, требующих высокого разрешения, таких как образцы газов, до высококонцентрированных образцов жидкостей.

Для спектрофотометра UV-3600i Plus характерно использование голографических дифракционных решеток в двойном монохроматоре, которые предназначены для достижения высокой эффективности и низкого уровня рассеянного света. Помимо этого, голографические дифракционные решетки используются для диапазонов длин волн, которые по своей природе имеют низкую энергию, или для которых характерна более низкая чувствительность детектора.

Система G-G, подразумевающая использование решеток и для пред-монохроматора, и для основного монохроматора, обеспечивает низкий уровень рассеянного света при постоянном оптимальном разрешении 0,1 нм для УФ и видимого диапазона спектра и 0,4 нм для ближней ИК-области.

Области применения спектрофотометра UV-3600i Plus:

Электротехника, электроника и оптика:

Измерение коэффициента поглощения поляризационных пленок;
Измерение коэффициента отражения многослойных пленок;
Измерение абсолютного отражения зеркал с высоким коэффициентом отражения;
Измерение спектральных характеристик светоделителей;
Измерение относительного излучения светодиодов;
Измерение коэффициента пропускания кварцевых пластин;
Измерение абсолютного отражения антибликовых покрытий;
Измерение коэффициента пропускания функциональных пленок;
Измерение диффузного отражения и ширины запрещенной зоны полупроводниковых материалов;
Измерение коэффициента пропускания защитного стекла солнечных элементов и т.д.

Строительство:

Измерение коэффициента пропускания оконного стекла и пленок для оконных стекол;
Измерение отражательной способности красок и строительных материалов.

Фармацевтика, косметика и биология:

Измерение цвета косметических средств и ультрафиолетовой защиты;
Измерение содержания кристаллизационной воды в лекарствах;
Измерение влажности растений;
Определение содержания различных аминокислот;
Количественный анализ белков и нуклеиновых кислот;
Измерение фармацевтических компонентов в ближнем инфракрасном диапазоне.

Продукты:

Измерение диффузного отражения пшеницы, количественный анализ витаминов, пищевых добавок и минералов;
Количественный анализ содержания фенола в контейнерах и упаковочных материалах;

Химия:

Измерение коэффициента пропускания и цвета пластмассовых материалов
Измерение отражательной способности материалов на основе кремнезема с белой пропиткой
Измерение толщины тонких пленок
Измерение органических растворителей в ближнем инфракрасном диапазоне
Измерение мутности пластмасс

Текстильные изделия:

Измерения коэффициента пропускания и отражения, а также ультрафиолетовой фильтрации текстильных изделий;
Измерение цвета текстильных изделий

Транспорт:

Система оценки датчика предотвращения столкновений с помощью лидара

Программное обеспечение:

LabSolutions UV-Vis предлагающее комплексный анализ данных, функцию проверки соответствия результатов, экспорт данных в текстовые и табличные форматы. Обработка данных, после снятия спектра, может выполняться в автоматическом режиме в соответствии с выбранным методом оценки. Можно настроить несколько критериев оценки.

Метод для вычисления расчетных значений можно выбрать из 33 стандартных методов оценки (арифметические расчёты, пик/впадина, площадь или статистические расчёты) или настроить. Критерии соответствия/несоответствия также могут быть выбраны из восьми типов (например, значение больше или равно, меньше или равно, больше или меньше указанного значения).

Настройка параметров

Плавная работа. Четыре отдельных режима измерения: спектральный, количественный, фотометрический, временной, автоматическое измерение (опционально) позволяют выполнять измерения с помощью интуитивно понятных операций. Настройки параметров прибора можно задать с помощью панелей управления, которые находятся отдельно от окна измерения. Панели управления оснащены различными функциями, которые обеспечивают превосходную видимость. Каждое окно измерения легко подключается к соответствующему окну настройки параметров.

От измерения до вывода данных

Повышена производительность операций анализа данных. Операции анализа данных и вывода данных могут выполняться одновременно с измерением данных. Время, затрачиваемое на вывод или анализ данных, также может быть сокращено за счет одновременной отправки данных в электронную таблицу Excel® в режиме реального времени или сохранения данных в виде текста. Программное обеспечение также может автоматически выполнять последующую обработку измеренных данных, такую как обработка/коррекция спектров, и выполнять оценку правильности результатов измерений (автоматическая спектральная оценка). Функция передачи данных анализа в Excel® в режиме реального времени одновременно с измерением данных. Простая передача данных во внешнее программное обеспечение для анализа данных (функции одновременного сохранения текста и вывода матрицы).

Дополнительное программное обеспечение:

ПО для расчета фактора защиты от УФ излучения (UPF) и для измерения пропускания солнечного света
ПО для измерения цветности
ПО для измерения толщины пленок

Программное обеспечение для измерения толщины пленок: Рассчитывает толщину пленки на основе измеренного спектра, используя метод интерференционных интервалов. (Для расчета толщины пленки требуется ввести показатель преломления образца). Интерференционный метод рассчитывает толщину пленки на основе расстояния между пиками интерференционной волны (Baray). Можно задать параметры обнаружения пика (Baray), а также угол падения и диапазон длин волн для расчета толщины пленки.
Программное обеспечение для расчета цвета: Вычисляет значение цвета при измерении на основе измеренного спектра. Вы можете отобразить график координат цветности XY в колориметрической системе XYZ или график индекса яркости/цветовых координат в CIELAB. Содержит основные элементы расчета для колориметрической системы XYZ, CIELAB, CIELUV, колориметрической системы Манселла, менталитета, желтизны, белизны и разницы в цвете. Возможен расчет элементов, связанных с цветами JIS и ASTM. Возможно настроить освещенность при измерении и угол обзора при наблюдении.
Программное обеспечение для расчета UPF (коэффициента защиты от ультрафиолетового излучения) на основе измеренного спектра: Позволяет расчитать UPF, UVA, UVB, коэффициент защиты от ультрафиолетового излучения, коэффициент защиты от ультрафиолетового излучения (UVA, UVB) по стандартам JIS, DIN, BS, AATCC, AS/NZAA, GB/T.

Автоматизация анализа

Shimadzu предлагает автоматизировать рутинные спектрофотометрические измерения, используя обновленные автосамплеры Teledyne CETAC серии ASX.

Подробнее....

Доступные аксессуары

Расходные материалы и принадлежности для спектрофотометров Shimadzu

Руководство по выбору принадлежностей УФ для жидкостей

Руководство по выбору принадлежностей УФ для твердых тел

Держатель для фотопленки (P/N 204-58909). Используется для фиксации фотопленок, фильтров и других предметов. Он совместим с образцами размером от W16 × H32 мм до W80 × H40 мм.
Вращающийся держатель пленки (P/N 206-28500-41). Позволяет вращать образцы в плоскости, центрированной по оптической оси. Он совместим с образцами размером до 33 × 30 мм.
Отсек для 6 образцов (P/N 206-69160-41). Вмещает до шести ячеек со стороны образца. 1 ячейка для стандарта. Управление осуществляется автоматически.
Держатель длинных кювет (P/N 204-23118-01). Для фиксации кювет 10, 20, 30, 50, 70, 100 мм.
Прокладки ля фиксации микрокювет: для 2 мм кювет (P/N 204-21473-01); 5 мм (P/N 204-21473-02); 1 мм (P/N 204-21473-03).
Держатель для ячеек Super-Micro (P/N 206-14334). В зависимости от типа используемой ячейки можно измерить объем от 50 до 200 мкл.
Держатель ячейки с постоянной температурой (P/N 202-30858-44). Регулирует температуру ячейки, за счет циркуляции воды. Диапазон рабочих температур от 5 до 90 °C (требуется отдельный циркулятор воды с постоянной температурой). Также доступна модель с четырьмя ячейками (P/N: 204-27206-02).
TCC-100 Терморегулируемый держатель ячейки (P/N 206-29510). Может регулировать температуру ячеек как со стороны образца, так и со стороны эталона. Диапазон регулирования температуры составляет от 7 до 60 °C. Температуру можно регулировать только со стороны образца.
Терморегулируемый держатель 6 ячеек (P/N 206-29500). Диапазон регулирования температуры составляет от 16 до 60 °C.
S-1700 Термоэлектрический держатель с одной ячейкой (P/N 206-23900). Этот держатель (включая мешалку) можно запрограммировать на повышение/понижение температуры со стороны образца. Диапазон регулирования температуры составляет от 0 до 110 °C. Для охлаждения элемента Пельтье необходимо обеспечить внешнюю циркуляцию охлаждающей воды.
Насадка для измерения коэффициента зеркального отражения (P/N 206-14046-58). Позволяет измерять коэффициент зеркального отражения. Угол падения на образец составляет 5 градусов. Совместима с образцами размером от 7 мм в диаметре до 160 × 100 мм и толщиной до 15 мм.
ISR-2600 Интегрирующая сферическая насадка (P/N 207-20100-58). Позволяет измерять относительный коэффициент диффузного или зеркального отражения. Угол падения на образец можно настроить, установив его равным нулю или восьми градусам, в сочетании с функцией переключения между образцом и эталонной стороной спектрофотометра. Диапазон длин волн для измерения составляет от 220 до 2600 нм. Насадка совместима с отражающими образцами диаметром до 100 мм и толщиной до 15 мм.
ISR-1503 Насадка для встраиваемой сферы (P/N 207-20900-58). Эта встраиваемая сфера с внутренним диаметром 150 мм и максимальным коэффициентом раскрытия 4,0% соответствует ряду нормативных требований. Диапазон длин волн для измерения составляет от 220 до 2500 нм. Имеется небольшой держатель для измерения коэффициента пропускания, стандартный держатель ячейки для прямого определения, держатель для порошкообразных образцов, держатель для пленок и другие специальные аксессуары.
MPC-603A Многофункциональное отделение для больших образцов (P/N 207-23550-41). Можно использовать для измерения коэффициента пропускания или отражения образцов различной формы. Диапазон длин волн для измерения составляет от 220 до 2600 нм. Устройство совместимо с образцами с коэффициентом пропускания до 305 мм в диаметре и толщиной 50 мм или до 204 мм в диаметре и толщиной 300 мм, а также с образцами с коэффициентом отражения до 305 мм в диаметре и толщиной 50 мм.
Устройство для измерения угла наклона для MPC-603A (P/N 207-23490-42). Позволяет измерять абсолютную отражательную способность твердых образцов, при этом углы падения и отражения могут быть установлены под любым углом. Диапазон длин волн для измерения составляет от 250 до 1650 нм. Прибор совместим с образцами размером от 20 до 70 квадратных мм и толщиной от 2 до 15 мм. Угол падения может быть установлен в диапазоне от 5 до 70 градусов.
Насадки для измерения абсолютного коэффициента отражения. Устанавливаются в многоцелевой отсек для больших образцов, что позволяет измерять абсолютный коэффициент зеркального отражения твердых образцов. Совместимый диапазон размеров образцов составляет от 20 до 150 квадратных мм и до 30 мм толщиной. Требуется опорная плита для образца, объединяющая набор сфер.

P/N	Угол падения	Диапазон длин волн
206-16817-58	5°	300 - 2400 нм
206-16100-58	12°	300 - 2500 нм
206-15001-58	30°	300 - 2300 нм
206-15002-58	45°	300 - 2300 нм

Микродержатель для образцов (P/N 206-28055-41). Позволяет удерживать небольшие образцы на интегрирующей сфере. Он совместим с образцами размером от 5 до 10 мм² и толщиной 0,5 -2 мм.
Держатель для порошковых образцов (для интегрирующей сферы) (P/N 206-89065-41). Этот держатель для порошковых образцов предназначен для установки в интегрирующую сферу.
Большой поляризатор в сборе / Polarizer Assys. Позволяет контролировать поляризационные характеристики падающего на образцы света.

P/N	Тип	Диапазон длин волн
206-15694-40	Large type	250 - 2300 нм
206-13236-41	Type I	400 - 800 нм
206-13236-42	Type II	260 - 700 нм
206-13163-40	Type III	260 - 2300 нм