Позволяет проводить наблюдение в условиях изменения температуры, влажности, освещенности, газового состава.

При помощи опционально доступных климатических перчаточных боксов (Камер с контролируемой средой)  CH-II / CH-III, сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700 можно модернизировать до системы серии WET-SPM. Это особенно идеально подходит для изучения образцов, уязвимых для воздуха или влаги.

Проведение измерений в условиях изменяющихся физических параметров возможно только для сканирующего зондового микроскопа SPM-9700, который был оптимизирован для работы в климатическом перчаточном боксе за счет включения таких функций, как запатентованный механизм скольжения головки Shimadzu, управление с передней панели, полностью автоматический подход и конструкция с открытой головкой.

Камеры с регулируемой средой, CH-II (без турбомолекулярного насоса) и CH-III (с урбомолекуляным насосом), со встроенным виброгасителем были разработаны специально для серии сканирующих зондовых микроскопов SPM-9700. Опциональные блоки SPM можно легко установить через заднюю часть камеры. Это позволяет обрабатывать образцы в контролируемой среде и сразу наблюдать за происходящими в образце изменениями с помощью сканирующего зондового микроскопа. (патент Японии № 2612395 и патент США № 5200616).

Большое смотровое окно и перчатки для обеих рук позволяют свободно проводить предварительную обработку образцов внутри камеры. При помощи дополнительных аксессуаров, совместимых с климатическим боксом и сканирующим зондовым микроскопом SPM-9700, систему WET-SPM можно использовать в качестве SPM на месте для мониторинга изменений поверхности в ответ на изменения физических величин, таких как температура, влажность, давление, свет и концентрация.

Блок микроскопа можно легко загружать и выгружать из задней части климатического бокса, что позволяет использовать микроскоп для наблюдения за объектами как в обычных условиях, так и и в условиях контролируемой и изменяемой среды.

Схема конфигурации камеры с контролируемой средой CH-II / CH-III

Технические характеристики CH-II / CH-III

Опции серии WET-SPM

Контроллер температуры и влажности

Контроллер прикрепляется к камере с контролируемой средой для контроля температуры и влажности внутри камеры.

Блок распыления газа

Блок распыления газа подключается к запасному порту для распыления небольшого количества газа на образец.

Блок нагрева и охлаждения образца

Образец можно загрузить в установку и нагреть или охладить.

Нагревательный элемент для образца

Образец можно загрузить в установку и нагреть. Установка может работать даже в атмосферных условиях, в зависимости от образца.

Блок светового облучения

Это устройство позволяет использовать передающийся по оптоволоконному кабелю свет для облучения поверхностей образцов. Он не включает источник света или оптическое волокно. Может эксплуатироваться в атмосферных условиях.