Описание

Последовательный волнодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр Lab Center XRF-1800 компании Шимадзу расширяет сферу применения волнодисперсионных рентгеновских спектрометров.

Качественный и количественный анализ в диапазоне от бериллия Be по уран U на рентгеновском спектрометре XRF-1800 за 2,5 минуты
Картирование распределения элементов с шагом 250 мкм
Локальный анализ в точке Ø 500 мкм с помощью микроколлиматоров и встроенной цифровой камеры
Качественный и количественный анализ с применением линий высших порядков (патент)
Определение толщины и элементного состава плёнок органической природы методом фундаментальных параметров с использованием линий Комптоновского рассеяния (патент), определение толщины и элементного состава неорганических покрытий
Уникальная система пробоподачи образца

Особенности Lab Center XRF-1800:

Образец отображения

Первое в мире картографирование с размером ячейки 250 мкм для анализа с дисперсией по длине волны. Это позволяет анализировать распределение содержания и распределение интенсивности неоднородного образца

Решение пикового рентгеновского излучения высокого порядка

Система может переключить профиль первого порядка на отображение профиля высокого уровня. Пользователь может более точно оценить пиковые помехи более высокого порядка.

Измерение толщины пленки методом фоновой ФП

Система может рассчитывать теоретическую интенсивность рассеянного рентгеновского излучения с помощью оригинального метода фоновой ФП.
С помощью этого метода расчета можно оценить толщину неорганического компонента или полимера.

Локальный анализ

Положение анализа и изображение могут быть наложены друг на друга путем импорта изображения после размещения держателя образца в положении вставки камеры анализа таким же образом, как и в положении анализа образца.

Надежная рентгеновская трубка

Рентгеновская трубка с тонким окном мощностью 4 кВт для высокой надежности и длительного срока службы. По сравнению с обычной лампой мощностью 3 кВт, в легких элементах достигается более чем вдвое большая чувствительность.

Опыт, сжатый в шаблонах и функциях сопоставления

Простота использования - шаблоны и функции сопоставления на основе опыта Shimadzu. Оптимальные условия могут быть созданы на основе подготовленных условий для таких форм образцов, как жидкость, порошок, твердое тело, металл и оксиды.

Технические характеристики:

Диапазон определяемых элементов	От Be по U, базовая комплектация от O по U
Рентгеновский генератор трубка параметры	Rh-анод c тонким торцевым окном, мощность 4 кВт опции: W, Pt, Cr аноды 60 кВ, 150 мА
Система охлаждения	Двойной контур, внутренний замкнутый для охлаждения анода, внешний открытый/замкнутый. Рециркулятор воды (опция).
Облучение образца	Сверху; образец вращается со скоростью 60 об/мин
Система ввода образца	Маятникового типа, без динамических нагрузок
Автосамплер	8 позиций; 40-позиционный (опция)
Держатели образцов	7 для массивных образцов, один для локального анализа
Размер образца	51 мм в диаметре, высота 38 мм
Первичные фильтры	Автоматическая смена 5 типов: Al, Ti, Ni, Zr, без фильтра
Апертуры	Автоматическая смена 5 типов: 500 мкм, 3, 10, 20, 30 мм
Локальный анализ	0,5 мм диаметр; цифровая камера для контроля области анализа (опция)
Первичные щели	Автоматическая смена 3 типов: - стандарт - с высоким разрешением - с высокой чувствительностью
Аттенюатор	Автоматическое включение/выключение
Сменщик кристаллов	Автоматическая смена 10 кристаллов в двух направлениях
Кристаллы-анализаторы	LiF (200), PET, Ge, TAP стандартные; LiF (220), SX-52, SX-1, SX-14, SX-88, SX-98, SX-76, SX-410 опции
Детекторы	Сцинтилляционный счётчик (SC) для тяжелых элементов, Проточный пропорциональный счетчик (FPC) для лёгких элементов
Система подачи газа для FPC	Электронный контроль плотности; потребление газа 5 см³/мин
Контроль степени разрежения	Стабилизатор вакуума
Атмосфера анализа	Воздух/вакуумирование; предварительное вакуумирование с двумя скоростями; система напуска гелия/азота (опция)